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北京精微高博JW-DX动态比表面测定仪
bet比表面积仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪,JW发明专利,创新的结构,每个样品单独吸附,互不干扰,吸附峰尖锐,灵敏度大大提高,通过吸附峰直接对比得到比表面,测试准确、稳定,比表面
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精微高博高通量比表面仪JW-BK400
比表面积测试仪 精微高博专注于比表面积测试仪的研发及销售,是国内外的知名品牌。并于2014年获得比表面积测试仪《国产好仪器》证书,客户的认可就是我们制造与研发比表面仪的动力
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精微高博 Master 400 质谱仪
Master 400是Altamira Instruments(AMI仪器)公司于2022年全新推出的一款台式气体分析系统。可以实现和气体相关的线上或离线气体成分定性或定量分析。它具有直观的设计
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DX 400 比表面精微高博
比表面积是微纳米粉体材料表面物性的一个重要指标,通常使用氮吸附法进行测定。动态氮吸附法广泛应用于工业生产线上产品的快速检测。精微高博公司推出了DX400比表面积分析仪,具有测试准确、高效的特点
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比表面DX 400 精微高博 什么是比表面?
精微高博比表面积分析仪DX 400 适用于材料分析项目,参考多项行业标准。可以检测粉体材料等样品。可应用于航空/航天行业领域。 “比表面”指固体物质表面积的大小,具体定义是固体单位质量的总表
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DX 400 比表面积分析仪
比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一,常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司发明专利仪器DX400比表面积分析仪,测试准确
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精微高博基础型陶粒比表面分析仪BK基础型
精微高博基础型陶粒比表面分析仪BET 比表面积, Langmuir比表面积, 外表面积的测定, 样品孔容孔径、孔径分布的测定。测试范围0.0005 m2/g – 无上限(比表面积);0.35
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精微高博比表面DX 400 应用于陶瓷
精微高博比表面DX 400 参考多项行业标准。完成粉体材料的检测。可以用在冶金行业领域中的材料分析项目。 “比表面”指固体物质表面积的大小,具体定义是固体单位质量的总表面积,单位是M2/g,或cm2
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精微高博 AMI-400C 全自动程序升温化学吸附仪
AMI-400系列是美国AMI仪器公司及其母公司:北京精微高博仪器有限公司,共同研发的最新一代全自动化学吸附分析仪器。根据中国市场的科研应用需求、用欧美早年的领先技术加上中国的供应链能力,历时近三年
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精微高博比表面及孔径测试仪JW-BK200C
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